TOP
0
0
三民出版.新書搶先報|最速、最優惠的新鮮貨報給你知!

縮小範圍


商品類型

簡體書 (2)
商品狀況

可訂購商品 (1)
無法訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (2)
商品定價

$199以下 (1)
$400~$599 (1)
出版日期

2018~2019 (1)
2016年以前 (1)
裝訂方式

平裝 (2)
作者

靳松、韓銀和 (2)
出版社/品牌

清華大學出版社(大陸) (2)

三民網路書店 / 搜尋結果

2筆商品,1/1頁
作者:靳松; 韓銀和  出版社:清華大學出版社(大陸)  出版日:2012/06/01 裝訂:平裝
《納米數字集成電路老化效應:分析、預測及優化》的主要內容涉及一種公認的納米工藝下較為嚴重的晶體管老化效應--負偏置溫度不穩定性 (nbti)。介紹了nbti效應產生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響。從提高nbti效應影響下電路可靠性的角度,論述了相應的硅前分析、在線預測和優化方法。 《納米數字集成電路老化效應:分析、預測及優化》可為從事大規模數字集成電路可靠性設計及容錯計算方向研究的科技人員
絕版無法訂購
納米數字集成電路的偏差效應分析與優化:從電路級到系統級(簡體書)
滿額折
作者:靳松; 韓銀和  出版社:清華大學出版社(大陸)  出版日:2019/06/11 裝訂:平裝
本書主要涉及在納米工藝下較為嚴重的晶體管老化效應――負偏置溫度不穩定性和製造過程中引起的參數偏差。介紹了參數偏差效應產生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響,並提出了從電路級到系統級的相應的分析、預測和優化方法。
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天
定價:414 元, 優惠價:87 360

暢銷榜

客服中心

收藏

會員專區